高低溫低氣壓試驗箱GB/T5170.10-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備》規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。

　　高低溫低氣壓試驗箱GB/T5170.10應(yīng)用于對GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設(shè)備的首次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本標(biāo)準(zhǔn)還適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。